求む:宇宙で製造されるオンデマンド電子機器の品質検証

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概要

NASAは、機械的完全性を検証し、電気回路を検証し、オンデマンドで製造されたデバイスの機能テストを実行できる革新的なマルチマテリアル検査ソリューションを求めています。その場でのプロセス監視、欠陥検出、そして可能な限り、積層造形プロセス中の是正措置が望まれます。

背景

NASAのインスペース・マニュファクチャリング(ISM)プロジェクトは、月や火星で宇宙飛行士が直面する課題に対処することを目的としている。彼らのアプローチ「Make It Don’t Take It」は、オンデマンド・マニュファクチャリング・オブ・エレクトロニクス(ODME)のためのマルチマテリアル自動積層造形技術を含む。この技術は、センサー、パワーデバイス、半導体、電子基板、健康監視パッチなどを作ることができる。

完成品が高い信頼性を持って機能することを保証するためには、製造中のこれらの電子機器の品質試験と検査が不可欠です。しかし、使用される材料が多様であるため、従来の検査方法では困難が伴います。NASAは現在、高精度積層造形プラットフォームであるNscrypt Platformを使用しています。Nscrypt Platformは、マイクロディスペンシング、材料押し出し、レーザー加工、焼結、加熱、UVおよび光硬化を提供します。このプラットフォームには、卓越した精度を誇る高解像度レーザープロファイルスキャンシステムが含まれている。検査ソリューションは、理想的にはこのプラットフォームに統合されるか、またはこのプラットフォームと並行して機能する。

 

制約:

解決策はある:

  • さまざまな印刷電子資料に適用されるが、ある種の機器に特化したものも対象となる。
  • 非破壊評価法を採用する。
  • 消費電力が低い(最大1500W)。
  • 体積が小さく、例えばコンパクトであること。
  • 理想的には、印刷工程の一部としてその場で使用するか、あるいはプリンターと並行して使用する。
  • 理想的には、体積8500in3以下のカスタマイズされたnScriptプリンターに統合されるだろう。
  • 完全に自動化されているか、自動化可能である。
  • 光学ソリューションでは、最低25μm、理想的には10μm以上の解像度が可能(将来の半導体プリントでは0.5~2μmの解像度が必要)。
  • 例えば、機械試験用、電気試験用、機能試験用など。

その他

  • 商業製品の国際的なプロバイダーが対象となる。
  • 研究レベルのソリューションは、米国の研究機関のものに限る。

 

考えられる解決策

印刷の厚みや品質については、レーザースキャナー、光学検査、赤外線センサー、超音波センサー、静電容量センサー、コンピュータービジョン、レーザー干渉計、力センサー、X線、CTスキャンなどの検査方法がある。

インサーキットテストや機能テストには、フライング・プローブ・テスター、マルチメーター、バウンダリー・スキャン・テスト、赤外線テストなどのソリューションがあります。

渦電流と分光法は対象外。

 

考えられる解決策

NASA ODMEプラットフォームに新しい検査ソリューションを統合。

 

 

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Image by vecstock onFreepik

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